您可能熟悉 JTAG，因为您使用过带有 JTAG 接口的工具。处理器经常使用 JTAG 来提供对其调试/仿真功能的访问，所有 FPGA 和 CPLD 都使用 JTAG 来提供对其编程功能的访问。

JTAG 不仅仅是一种处理器调试/仿真技术。
JTAG 不仅仅是一种用于对 FPGA/CPLD 进行编程的技术。

通常与 JTAG 相关的调试和编程工具仅利用底层技术的一个方面——四线 JTAG 通信协议。

这四个信号统称为测试访问端口或 TAP，是 IEEE 标准的一部分。1149.1。该标准旨在提供一种测试印刷电路板组件 (PCBA) 的技术，无需针床测试所需的物理访问级别或功能测试所需的定制开发量。TAP 旨在与添加到设备中的新寄存器进行交互，以实现这种测试方法。

然而，硅制造商很快就认识到使用 TAP 访问提供其他功能（例如调试和编程）的寄存器的好处。

添加到专门用于 JTAG 测试的设备的主寄存器称为边界扫描寄存器 (BSR)。顾名思义，该寄存器的各个位或单元位于设备的边界，位于其功能内核和连接到电路板的引脚或球之间——JTAG 测试通常被称为边界扫描.

TAG / 边界扫描如何用于测试电路板？

边界扫描单元（见上文）可以在两种模式下运行。在它们的功能模式下，它们对设备的运行没有影响——这是当板正常运行时它们运行的模式。在他们的测试模式下，他们将设备的功能核心与引脚断开。通过将边界扫描单元置于测试模式，它们可用于控制从启用设备驱动到网络的值，也可用于监控该网络的值。

将引脚的控制与启用的设备的功能断开，使得边界扫描测试开发比传统的功能测试更容易，因为无需设备配置或启动即可使用这些引脚。通过提供一种机制来控制和监视来自四针 TAP 的设备上的所有启用信号，JTAG 显着减少了测试电路板所需的物理访问。

有两种主要方法可以使用这种边界扫描功能来测试电路板。第一种方式，连接测试（见下一节）提供了良好的测试覆盖率，特别是对于短路故障。它完全基于 JTAG 设备功能、板上的连接和网络，以及 - 在 XJTAG 的情况下 - 板上的逻辑功能。第二种方法通过使用板上支持 JTAG 的设备与非 JTAG 外围设备（如 DDR RAM 和闪存）进行通信来扩展此覆盖范围。

什么是 JTAG 连接测试？

JTAG 连接测试将检查板上 JTAG 启用设备周围的连接是否与设计中指定的连接相同。

如果要连接两个启用 JTAG 的引脚，则测试将确保一个引脚可以由另一个引脚控制。如果启用的引脚不打算连接，则通过驱动一个引脚并检查其他引脚上是否未读取这些值来测试它们是否存在短路故障。

缺少拉电阻和“卡住”故障也可以通过连接测试以及涉及可以在真值表中描述的行为的逻辑设备的故障来发现。

XJTAG 将根据电路板的网表和启用设备的 JTAG 信息自动生成运行连接测试所需的向量。

XJTAG软件产品

XJ Developer                                   XJInvestigator                                           XJRunner 

完整的开发环境                                生产维修/返修站                                 专门的运行时环境

1.开发和调试测试                         1.BGA 和细间距器件的实时逐个              1.生产测试

2. 在系统编程设置                           引脚控制                                              2.在系统编程

3.测试覆盖率分析                        2.制造故障诊断                                        3.原理图查看器

4.非 JTAG 器件库                        3.系统内编程                                   4.布局查看器